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プレスリリース一覧
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JTAGテスト / バウンダリスキャンテスト
JTAG Technologies社のJTAGテストソリューションは、IEEE1149.1スタンダードの実装基板テストとして製品のライフサイクル全体で使用できます。
設計におけるデバッグ効率化、 プリント回路基板の実装保証、保守におけるBGA基板の故障解析まで、信頼性の高いテストソリューションです。
BGA部品、QFP部品、チップレットなどの3D IC、部品内蔵基板まで、高密度実装基板のテストと解析をサポートします。
PXI/LXI自動テストシステム
ピカリング インターフェース社の自動テストソリューションは、テスト業界で標準化されたPXI / LXIモジュールを組み合わせて自動テスト環境を構築できます。
スイッチングモジュールによる自動計測、センサーシミュレーションモジュールによる機能テスト、障害挿入モジュールによる安全性能テストまで、あらゆる手作業をWindowsアプリケーションから制御して、自動化をサポートします。
プレスリリース
「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」が第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞しました。
「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」が第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞しました。
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
2024年5月29日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
アンドールシステムサポートは「人とくるまのテクノロジー展 2024 横浜」に出展します
2024年5月14日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは2024年 5月22日～24日にパシフィコ横浜で開催される「人とくるまのテクノロジー展 2024 横浜」ノース会場内の英国パビリオンに出展しバッテリー・スタック・シミュレータ及び自動テストのデモを展示します。
JTAG Technologies社製品の価格改定のご案内
日頃より、JTAG Technologies社の製品をご愛顧いただきありがとうございます。 この度、外国為替の影響、部材費の高騰などの理由により、 日本国内でのJTAG社全製品の価格を改定をさせていただくことになりました …
EdgeTech+ 2023に出展します。
2023年10月31日 Arm社純正開発ツールJTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、パシフィコ横浜で2023年11月15日(水)～17日(金)まで開催される「EdgeTech+ 2023」に出展します。 今年は、Arm社純正開発ツール、Cortex-Mが実装されたマイコン向けの開発ツールであるKeil MDKとリアルタイムOSを組合わせたデバッグ環境、 BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
