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ものづくりの未来をサポートします。
プレスリリース一覧
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JTAGテスト / バウンダリスキャンテスト
JTAG
Technologies社のJTAGテストソリューションは、IEEE1149.1スタンダードの実装基板テストとして製品のライフサイクル全体で使用できます。
設計におけるデバッグ効率化、
プリント回路基板の実装保証、保守におけるBGA基板の故障解析まで、信頼性の高いテストソリューションです。
BGA部品、QFP部品、チップレットなどの3D
IC、部品内蔵基板まで、高密度実装基板のテストと解析をサポートします。
PXI/LXI自動テストシステム
ピカリング インターフェース社の自動テストソリューションは、テスト業界で標準化されたPXI /
LXIモジュールを組み合わせて自動テスト環境を構築できます。
スイッチングモジュールによる自動計測、センサーシミュレーションモジュールによる機能テスト、障害挿入モジュールによる安全性能テストまで、あらゆる手作業をWindowsアプリケーションから制御して、自動化をサポートします。
プレスリリース
事務所移転のお知らせ
2025年1月7日 プレスリリース
この度、弊社の事務所が川崎へ移転することになりましたので、お知らせ致します。なお、移転日は2025年1月20日を予定しており、同日より移転先にて平常通り業務を行う予定です。今後とも一層のご愛顧を賜りますよう、何卒お願い致します。
2025年開催ネプコンジャパンでJTAGテストと自動テストのソリューションを展示します
2024年12月16日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
2025年1月22日 (水) ～ 24日(金) に東京ビッグサイト開催される第39回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。
EdgeTech+ 2024に出展します
2024年11月11日 Arm社 認定セミナーArm社純正開発ツールJTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、 パシフィコ横浜で2024年11月20日(水)～22日(金)まで開催される「EdgeTech+ 2024」に出展します。 今年は、Arm社純正開発ツール、Cortex-Mが実装されたマイコン向けの開発ツールであるKeil MDKとリアルタイムOSを組合わせたデバッグ環境、 BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
Arm Tech Symposia 2024に出展しました
2024年11月8日 Arm社 認定セミナーArm社純正開発ツールJTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、2024/11/7(木) コンファレンスセンター・品川 で開催された、Arm Tech Symposia 2024に出展しました。
第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会にて、タカヤ株式会社およびアンドールシステムサポート株式会社は、優秀賞を受賞しました
第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会 春季講演大会の優秀賞を受賞しました。 MES2024 第34回 マイクロエレクトロニクスシンポジウムにて、授賞式が行われました。
